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橢偏儀
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FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。
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更新時間：2024-07-12
型號：FS-1
廠商性質：代理商
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