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動(dòng)態(tài)激光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,主要用于測量光學(xué)元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數(shù)、機(jī)械應(yīng)力場等。該儀器基于干涉原理,通過激光光束的干涉效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)對被測對象的測量和分析。它廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)研究、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域,具有高精度、快...
薄膜在線測厚儀的測量原理有4種:射線技術(shù),X射線技術(shù),近紅外技術(shù)和光學(xué)透過率技術(shù)2.1射線技術(shù)射線技術(shù)是最先應(yīng)用于在線測厚技術(shù)上的射線技術(shù),在上世紀(jì)60年代就已經(jīng)廣泛用于超薄薄膜的在線厚度測量了。2.2X射線技術(shù)這種技術(shù)極少為塑料薄膜生產(chǎn)線所采用。X光管壽命短,更換費(fèi)用昂貴,一般可用2-3年,更換費(fèi)用在5000美元左右,而且不適用于測量由多種元素構(gòu)成的聚合物,信號源放射性強(qiáng)。X射線技術(shù)常用于鋼板等單一元素的測量。2.3近紅外技術(shù)近紅外技術(shù)在在線測厚領(lǐng)域的應(yīng)用曾受到條紋干涉現(xiàn)象...
厚度電阻率測試是一種用于測量材料電導(dǎo)率的方法,在許多工業(yè)和科學(xué)應(yīng)用中都得到了廣泛的應(yīng)用。它可以用于確定材料的電阻、電導(dǎo)率以及其他重要的電學(xué)特性。本文將介紹它的原理、方法和一些常見的應(yīng)用。一、原理:厚度電阻率測試基于電場強(qiáng)度和電流密度之間的關(guān)系來測量材料的電導(dǎo)率。當(dāng)在具有已知電勢差的兩個(gè)電極之間施加電壓時(shí),會(huì)在材料內(nèi)部形成一個(gè)電場。電子在這個(gè)電場下向電極移動(dòng),并在材料內(nèi)部產(chǎn)生電流。根據(jù)歐姆定律,電流與電壓成正比,而電阻與電流成反比。因此,通過測量電壓和電流密度,可以計(jì)算出材料的...
厚度電阻率測試是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程和制造業(yè)領(lǐng)域的測試方法,可以幫助人們了解不同材料的電性能。在這篇文章中,我們將介紹什么是厚度電阻率測試及其應(yīng)用。厚度電阻率是一種描述材料電阻力量的物理量,它指示了單位厚度下材料的電阻強(qiáng)度。厚度電阻率通常以歐姆(ohm)每平方為單位表示,它告訴我們電流通過單位面積時(shí)材料的電阻程度。材料的厚度越小,其電阻率就會(huì)變得更高,反之亦然。該測試是一種測量材料電阻率的方法。這種測試通常通過將定量的電壓施加到被測材料上,并測量由此產(chǎn)生的電流來完...
光學(xué)厚度測量儀是一種用于測量物體的厚度、膜層厚度和光學(xué)性質(zhì)的設(shè)備。它基于光學(xué)原理,利用光的反射或透射特性來測量不同材料的厚度。正確使用光學(xué)厚度測量儀需要遵循以下步驟:1.準(zhǔn)備工作:將設(shè)備放置在水平表面上,并打開儀器電源;2.校準(zhǔn)儀器:對于新設(shè)備,首先需要進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)選擇一個(gè)已知光學(xué)厚度的參考樣品,將其放入設(shè)備中,并按照儀器的說明書進(jìn)行操作。在校準(zhǔn)過程中,應(yīng)檢查儀器是否能夠正確讀取樣品的厚度值;3.放置待測物體:將待測物體放入設(shè)備中,注意使其與設(shè)備表面保持垂直。如果要測量...
非接觸式電阻測試設(shè)備是一種可用于對電路板等電子元器件進(jìn)行檢測的高效工具。這種設(shè)備不需要與電路板直接接觸,而是利用電磁場進(jìn)行檢測,從而有效地避免了可能造成損壞的接觸測試過程。下面,我們來看看如何正確地使用非接觸式電阻測試設(shè)備。步驟一:檢查設(shè)備和測試對象的狀態(tài)在使用前,首先需要檢查設(shè)備和測試對象的狀態(tài)。檢查設(shè)備是為確保其正常工作,可以通過開啟儀器并對其進(jìn)行自檢;檢查測試對象是為確認(rèn)是否具有正常工作的電流,以及測試對象是否完整。步驟二:設(shè)備預(yù)熱非接觸式電阻測試設(shè)備需要預(yù)熱,這一過程...